Exploració per tema "Enginyeria electrònica -- Congressos"
Ara es mostren els items 1-3 de 3
-
Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects
(2010)
Text en actes de congrés
Accés restringit per política de l'editorial -
Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis
(IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010)
Text en actes de congrés
Accés restringit per política de l'editorial -
Robustness of SRAM to Power Supply Noise during Leakage Power Saving in DVS
(IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010)
Text en actes de congrés
Accés restringit per política de l'editorial