Exploració per tema "Circuits integrats -- Proves"

Ara es mostren els items 1-2 de 2

    • Differential scan-path: A novel solution for secure design-for-testability 

      Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Guillen, Oscar M.; Sigl, Georg (2013)
      Text en actes de congrés
      Accés restringit per política de l'editorial
      In this paper, we present a new scan-path structure for improving the security of systems including scan paths, which normally introduce a security critical information leak channel into a design. Our structure, named ...

    • Estudi de la viabilitat sobre reparació en l’electrònica: elaboració de l’IC tester 

      Gimeno Peredo, Cristian (Universitat Politècnica de Catalunya, 2020-02-06)
      Treball Final de Grau
      Accés obert
      L’objectiu del treball exposat a continuació és el de construir un testejador de circuits integrats anomenat IC-Tester, una eina molt útil per a la reparació de circuits electrònics. La gran majoria d’aparells electrònics ...