Exploració per autor "Barcons Xixons, Víctor"
Ara es mostren els items 15-34 de 49
-
Machine learning assisted multifrequency AFM: Force model prediction
Elsherbiny, Lamiaa; Santos, Sergio; Gadelrab, Karim Raafat; Olukan, Tuza; Font Teixidó, Josep; Barcons Xixons, Víctor; Chiesa, Matteo (American Institute of Physics (AIP), 2023-12-05)
Article
Accés obertMultifrequency atomic force microscopy (AFM) enhances resolving power, provides extra contrast channels, and is equipped with a formalism to quantify material properties pixel by pixel. On the other hand, multifrequency ... -
Periodicity in bimodal atomic force microscopy
Lai, Chia-Yun; Barcons Xixons, Víctor; Santos, Sergio; Chiesa, Matteo (American Institute of Physics (AIP), 2015-07-28)
Article
Accés obertPeriodicity is fundamental for quantification and the application of conservation principles of many important systems. Here, we discuss periodicity in the context of bimodal atomic force microscopy (AFM). The relationship ... -
Probing power laws in multifrequency AFM
Santos, Sergio; Gadelrab, Karim Raafat; Olukan, Tuza; Font Teixidó, Josep; Barcons Xixons, Víctor; Chiesa, Matteo (2023-02-17)
Article
Accés obertQuantification of conservative forces in multifrequency atomic force microscopy requires solving the general equations of the theory expressed in terms of the virials of interaction. Power law expressions are commonly ... -
Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy
Santos Hernández, Sergio; Gadelrab,, K.; Barcons Xixons, Víctor; Stefancich, M.; Chiesa, Matteo (2012-07-20)
Article
Accés restringit per política de l'editorialA formalism to extract and quantify unknown quantities such as sample deformation, the viscosity of the sample and surface energy hysteresis in amplitude modulation atomic force microscopy is presented. Recovering the ... -
Quantification of van der Waals forces in bimodal and trimodal AFM
Santos, Sergio; Gadelrab, Karim Raafat; Elsherbiny, Lamiaa; Drexler, Xavier; Olukan, Tuza; Font Teixidó, Josep; Barcons Xixons, Víctor; Chiesa, Matteo (2023-05-28)
Article
Accés restringit per política de l'editorialThe multifrequency formalism is generalized and exploited to quantify attractive forces, i.e., van der Waals interactions, with small amplitudes or gentle forces in bimodal and trimodal atomic force microscopy (AFM). The ... -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2023-06-23)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2021-04-20)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2021-06-01)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2022-05-31)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2021-06-01)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2023-06-12)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2021-04-14)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2022-06-10)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2023-06-12)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2023-06-23)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2023-06-12)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2022-04-05)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2021-06-21)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2022-06-10)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor -
SISTEMES ELECTRÒNICS
Barcons Xixons, Víctor (Universitat Politècnica de Catalunya, 2021-06-16)
Examen
Accés restringit per decisió de l'autor