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    • Submicrometric profilometry of nonrotationally symmetrical surfaces using the Ronchi test 

      Royo Royo, Santiago; Arasa, Josep; Caum Aregay, Jesús (International Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2000)
      Text en actes de congrés
      Accés restringit per política de l'editorial
      The Ronchi test is a widely used tool in the optical shop, because of its capability of measuring wide-field profiles of optical quality surfaces through its important ray slope dynamic range. Although many applications ...
    • Tecnología óptica : lentes oftálmicas, diseño y adaptación 

      Caum Aregay, Jesús; Doménech Amigot, Begoña; Flores Seijas, José Ramón; Hernández Poveda, Consuelo; Illueca Contri, Carlos; Lupón Bas, Marta; Martínez Roda, Juan Antonio; Royo Royo, Santiago; Salvadó Arqués, Francisco María; Salvadó Arqués, Juan; Seguí Crespo, M. Mar; Vera Tenza, M. Luisa (Edicions UPC, 2001)
      Llibre
      Accés restringit a la comunitat UPC
      Este libro está dirigido básicamente a los estudiantes de tecnología óptica. Su contenido y nivel lo hacen adecuado para los profesionales de óptica y optometría, puesto que se trata de la primera obra escrita enteramente ...