DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >

Llistant per Autor Vatajelu, Elena Ioana

Saltar a: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
O introdueix les primeres lletres:   
Ordenar per: En ordre: Resultats/Pàgina Autors/Registre:
Mostrant resultats 1 a 6 de 6
Vista preliminarDataTítolAutor(s)
2010Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic AnalysisVatajelu, Elena Ioana; Panagopoulos, Georgios; Roy, Kaushik; Figueras Pàmies, Joan
Variability_Scenarios.pdf.jpg1-mar-2012Process variability in sub-16nm bulk CMOS technologyRubio Sola, Jose Antonio; Figueras Pàmies, Joan; Vatajelu, Elena Ioana; Canal Corretger, Ramon
2010Robustness of SRAM to Power Supply Noise during Leakage Power Saving in DVSVatajelu, Elena Ioana; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
dcis2012.pdf.jpg2012SRAM stability metric under transient noiseVatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
2010Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scalingVatajelu, Elena Ioana; Figueras Pàmies, Joan
2011Transient noise failures in SRAM cells: dynamic noise margin metricVatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
Mostrant resultats 1 a 6 de 6

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius