Exploració per autor "Ballester, A."

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    • Banco automatizado para la medida de parámetros S, de ruido y características DC de transistores en oblea 

      Pradell i Cara, Lluís; Purroy, Francesc; Subirats, M.; Ballester, A.; Torres Torres, Francisco; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Corbella Sanahuja, Ignasi (1994)
      Text en actes de congrés
      Accés obert
      The AMR Group has an automatized bench for the measurement of DC-characteristics, [S] parameters (45 MHz- 40 GHz) and noise parameters (2-26.5 GHz) of microwave on-wafer transistors. The hardware configuration is described, ...