Exploració per tema "Automatic Testing"
Ara es mostren els items 1-1 de 1
-
Design and implementation of automatic test equipment IP module
(Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010-05-24)
Comunicació de congrés
Accés restringit per política de l'editorialThis paper presents an Intellectual Property (IP) module that includes fully functional autonomous Automatic Test Equipment (ATE). The module analyses responses from the Device Under Test (DUT) after sending test vectors ...