• Enhancement of defect diagnosis based on the analysis of CMOS DUT behaviour 

      Arumí i Delgado, Daniel (Universitat Politècnica de Catalunya, 2008-07-11)
      Tesi
      Accés obert
      Les dimensions dels transistors disminueixen per a cada nova tecnologia CMOS. Aquest alt nivell d'integració complica el procés de fabricació dels circuits integrats, apareixent nous mecanismes de fallada. En aquest sentit, ...