Exploració per autor "Arumí i Delgado, Daniel"
Ara es mostren els items 1-1 de 1
-
Enhancement of defect diagnosis based on the analysis of CMOS DUT behaviour
Arumí i Delgado, Daniel (Universitat Politècnica de Catalunya, 2008-07-11)
Tesi
Accés obertLes dimensions dels transistors disminueixen per a cada nova tecnologia CMOS. Aquest alt nivell d'integració complica el procés de fabricació dels circuits integrats, apareixent nous mecanismes de fallada. En aquest sentit, ...